Globalt marked for halvledermetrologi og -inspeksjon vil oppleve sterk vekst innen 2031

Metrologi og inspeksjon spiller en avgjørende rolle i produksjonsprosessen for halvledere, og sikrer kvaliteten og avlingen av halvlederprodukter. Ifølge en rapport fra Allied Market Research forventes dette markedet å nå en verdi på 13,3 milliarder dollar innen 2031, med en årlig vekstrate på 6,2% fra 2022 til 2031.

Veksten i markedet for halvledermetrologi og -inspeksjon drives av flere faktorer. Videreutvikling av forsknings- og utviklingsfasiliteter, sammen med veksten av foundries, bidrar fortsatt til markedsvekst. I tillegg øker etterspørselen etter forbrukerelektronikk og antallet servere og datasentre, noe som ytterligere driver markedet. Den kontinuerlige innovasjonen innen elektroniske produkter, som har som mål å oppnå høyere ytelse, funksjonalitet, mindre formfaktorer og lavere kostnader, driver også etterspørselen etter metrologi- og inspeksjonsløsninger.

For å styrke sin markedsposisjon, implementerer nøkkelspillere i bransjen ulike strategier. Dette inkluderer fusjoner, oppkjøp, avtaler, samarbeid og lansering av produkter. For eksempel introduserte Hitachi High-Tech nylig GS1000-systemet for elektronstråleinspeksjon, et presist og raskt e-beam inspeksjonsverktøy. Slike strategiske trekk forventes å ha en positiv innvirkning på markedsveksten i prognoseperioden.

Rapporten fremhever viktige funn i markedet for halvledermetrologi og -inspeksjon. Segmentet for wafersinspeksjon dominerer markedet når det gjelder omsetning, og optisk teknologi har den høyeste omsetningen i 2021. Asia-Stillehavsområdet forventes å ha høyest veksttakt i årene som kommer. Rapporten gir også profilering av nøkkelspillerne i markedet og en prognoseanalyse fra 2022 til 2031.

Konklusjonen er at det globale markedet for halvledermetrologi og -inspeksjon vil oppleve sterk vekst i årene som kommer. Etterspørselen etter høykvalitets halvlederprodukter i ulike bransjer, samt kontinuerlige fremskritt innen teknologi, driver behovet for effektive metrologi- og inspeksjonsløsninger.

Privacy policy
Contact