Глобальний ринок метрології та контролю напівпровідників очікує міцний ріст до 2031 року

Метрологія та контроль відіграють важливу роль у процесі виробництва напівпровідників, забезпечуючи якість та виходи продукції. Згідно з доповіддю Allied Market Research, цей ринок прогнозується досягти значення 13,3 мільярда доларів до 2031 року, зростаючи з річною ставкою зростання 6,2% від 2022 по 2031 рік.

Зростання ринку метрології та контролю напівпровідників зумовлене кількома факторами. Прогрес дослідно-розробних закладів, а також розвиток фабрик продовжують сприяти розширенню ринку. Крім того, зростання попиту на споживчу електроніку та збільшення кількості серверів та дата-центрів додатково підтримують ринок. Постійна інновація електронних товарів з метою отримання більш високої продуктивності, функціональності, компактних розмірів та зниження вартості також стимулює попит на рішення метрології та контролю.

Ключові гравці на ринку запроваджують різні стратегії для зміцнення своєї позиції. Це включає злиття, поглинання, угоди, співпрацю та запуск продукції. Наприклад, Hitachi High-Tech недавно представила систему контролю площини електронного променя GS1000, точний і швидкий інструмент для електронно-променевого контролю. Очікується, що такі стратегічні рухи позитивно вплинуть на зростання ринку протягом прогнозного періоду.

Доповідь також підкреслює ключові висновки на ринку метрології та контролю напівпровідників. Сегмент систем контролю пластини очікується домінувати на ринку з точки зору доходів, при цьому сегмент оптичних технологій зареєстрував найвищий дохід у 2021 році. Прогнозується, що Азія-Тихоокеанський регіон буде свідком найвищої темпу зростання протягом наступних років. Доповідь також надає профілі ключових гравців на ринку та прогнозний аналіз від 2022 по 2031 рік.

Заключно, глобальний ринок метрології та контролю напівпровідників показує міцний ріст протягом наступних років. Попит на високоякісну продукцію з напівпровідників у різних галузях та постійне вдосконалення технологій спонукають до необхідності ефективних рішень у сфері метрології та контролю.

The source of the article is from the blog foodnext.nl

Privacy policy
Contact