Testarea fiabilității a constituit întotdeauna o provocare pentru companiile de semiconductor, iar aceasta devine și mai dificilă pe măsură ce dispozitivele continuă să se micșoreze și să fie integrate în ambalaje avansate. În fiecare zi, dispozitivele sunt utilizate în diferite condiții, cu durate de viață variabile în funcție de aplicația și cazurile de utilizare dorite. Pentru a răspunde acestor provocări, experții din industrie apelează în prezent la abordări inovatoare pentru a extrage date din interiorul dispozitivelor în sine.
Tradițional, testarea stresului și testarea structurală au fost metodele preferate pentru evaluarea fiabilității dispozitivelor. Cu toate acestea, aceste abordări adesea eșuează în a oferi o înțelegere cuprinzătoare a cât de aproape este un dispozitiv de a se defecta și rata de defectare. Pentru a acoperi acest gol, se utilizează acum noi tehnici care se bazează pe date detaliate și telemetrie. Prin extragerea datelor interne din dispozitive, inginerii pot obține informații valoroase despre performanța acestora și pot prognoza posibile defecte.
Nir Sever, Director Senior de Dezvoltare de Afaceri la proteanTecs, și Luca Moriconi, Manager R&D și Responsabil cu Planificarea Strategică la ELES Semiconductor Equipment, subliniază importanța acestei schimbări în metodologia de testare. Ei subliniază necesitatea de a înțelege nu doar modul în care dispozitivele se comportă în condiții de stres, ci și de a monitoriza funcționarea lor în timp real și de a analiza datele interne generate de dispozitive în sine.
Această nouă abordare a testării fiabilității este vitală pentru companiile de semiconductor pentru a asigura calitatea și longevitatea produselor lor. Prin utilizarea datelor detaliate și a telemetriei, devine posibilă determinarea ratei de eșec și prognozarea viitoarelor defecte posibile. Aceste informații permit companiilor să abordeze în mod proactiv problemele de fiabilitate și să îmbunătățească în ansamblu performanța și durabilitatea dispozitivelor lor.
Pe măsură ce industria de semiconductor continuă să evolueze și dispozitivele devin tot mai complexe, necesitatea unor teste de fiabilitate precise și de încredere devine crucială. Prin adoptarea unor tehnici noi care extrag date interne din dispozitive, companiile pot rămâne înaintea concurenței și pot livra produse care să satisfacă cerințele în continuă creștere ale pieței.
The source of the article is from the blog j6simracing.com.br